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VeEX TX300S 100G综合测试仪
VeEX TX300S 100G综合测试仪


生产厂家: VeEX
产  地: 美国

产品描述
  
VeEX TX300S是目前小巧的100G测试仪,小巧的机身VeEX TX300S 100G综合测试仪支持从2M到100G的全部速率,是运营商网络系统真正的 all in one测试解决方案,身材纤细,功能强大,适用于高速传输网、电信级以太网、移动回程网络以及传统网络等多种测试场合,赢得广泛赞誉的新一代100G测试平台。

  TX300S 100G测试仪支持FE/GE/10GE/ 40GE/100GE,OTU1,OTU2,OTU3和OTU4,STM-1/4/16/ 64/256,CPRI 1/2/3/4/5/6/7以及Fiber Channel 1/2/4/8/10G等各种传输技术的测试,其灵活便捷的软硬件体系结构配置,可以满足用户的多种需求,7寸触摸屏,带电池重量仅为2.5Kg。


平台亮点

§  直观图形化操作界面

§  高分辨率彩色触摸屏可在复杂环境下操作

§  对现场工程师或技术人员安装和维护OTN和SDH传输网以及下一代移动回程网络测试过程进行了优化

§  灵活的软件平台允许同时运行多个测试应用

§  通过10/100BASE-T接口,WiFi,蓝牙连接仪表可方便进行后台应用系统和用工量的管理

§  原子钟用于高稳定度的应用,可保证1ppb的精度

§  可选的GPS接收器用于单向时延测试,并可以作为一个参考时钟源

§  通过RS232C接口连接一个外接的GPS设备,用来接收ToD和1PPS同步时钟


OTN/SDH/PDH(支持100G/OTU4速率)

§  支持112G CFP4接口和QSFP+ 43G接口以及QSFP+ STL256.4

§  支持OTN测试,支持速率OUT-0/1/2/1e/2e

§  支持SDH/SONET测试,速率STM-0/1/4/16/ 64和OC1/3/12/48/192

§  支持PDH测试,E1/E2/E3;DS1/DS3/E4

§  支持E1, E3和DS1, DS3非侵入式的脉冲模板分析

§  光功率,电接口信号电平,频率测试

§  通道踪迹和指针生成和分析

§  APS测试,环路时延,开销监测和字节解码,级联监测

§  抖动漂移分析 (E1, E3, DS1, DS3 和STM-1o, OC-3)


以太网/光纤通道测试(高支持100GE)

§  支持100GE CFP4接口和QSFP+ 40GE接口

§  双10GE LAN / WAN XFP端口,双100Base-FX / 1000Base-X SFP端口,双10/100/1000Base-T RJ45 端口

§  支持用于SAN网络的1G/2G/4G/8G/10G 光纤通道测试

§  支持RFC2544测试

§  V-SAM 测试包符合ITU-T Y.1564 标准

§  IPv4 和 IPv6 数据流产生

§  支持IEEE 802.3ah,ITU-T Y.1731,IEEE 802.1ag,和MPLS-TP OAM,支持Q-in-Q(VLAN 堆栈)和多种MPLS 标签


SyncE / IEEE 1588v2

§  同步分组网络的完整解决方案

§  支持IEEE 1588v2 / PTP和SyncE / ITU-T G.8261标准

§  Master和Slave时钟仿真

§  IEEE 1588v2 / PTP 协议监测和解码

§  IEEE 1588v2 / PTP PDV 分析

§  可以从SyncE 或PTP恢复时钟并输出到 E1或DS1接口

§  支持ESMC SSM 的产生,监测,解码


CPRI 测试

§  速率:614.4 Mbps,1.2288 Gbps,2.4576 Gbps,3.072 Gbps,4.9152Gbps,6.144Gbps,9.8304 Gbps

§  支持带有PRBS码样的BER测试,以及LOS,LOF,SDI,RAI告警产生

§  时延测试,SDT测试,可支持Master和Slave仿真


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