VeEX MTTplus320 10G综合测试仪

产品亮点

§  测试模块涵盖了传统网络技术，接入网（电缆和光缆）、FTTx、城域网、电信级以太网和传输技术

§  非常实用的GUI设计，方便技术人员操作

§  支持未来测试模块的更新

§  非常经济、实用的测试平台

§  可选的MTT适配卡支持原来的MTT模块，避免原来的投资费用损失

§  GUI设计沿用测试模块原来的风格，并跟其他VeEX产品有相似的UI，降低技术人员培训时间

§  设备可以通过USB、以太网、WiFi以及数据卡进行连接

§  4个USB接口 (3个USB A和1个micro-USB B)

§  可以更快速的传输测试结果到U盘

§  可内置GPS选件

§  可内置相机选件用于工作页面的文档处理，二维码和条码扫描

§  小便携包，重量轻方便携带

§  现场可更换电池包

§  大LCD 触摸屏操作以及感光传感器配置

OTN/SDH/PDH测试

§  支持SDH/SONET测试，速率STM-0/1/4/16/ 64和OC1/3/12/48/192

§  支持OTN测试，支持速率OUT-0/1/2/OTU1e/ OTU2e/ODUflex

§  支持PDH测试, E1, E2, E3, DS1, DS3, E4

§  双PDH和DSn接口

§  支持E1, E3和DS1, DS3非侵入式的脉冲模板分析

§  光功率，电接口信号电平，频率测试

§  通道踪迹和指针生成和分析

§  APS测试

§  支持所有接口和负荷映射的环路时延测试

§  开销监测和字节解码

§  级联监测功能

§  抖动漂移分析 (E1, E3, DS1, DS3 和STM-1o, OC-3)

CPRI测试

§  速率：614.4 Mbps, 1.2288 Gbps, 2.4576 Gbps, 3.072 Gbps, 4.9152Gbps, 6.144Gbps, 9.8304Gbps

§  支持带有PRBS码样的BER测试以及LOS, LOF, SDI, RAI告警产生

§  时延测试，SDT测试，可支持Master和Slave仿真

以太网/光纤通道测试

§  双10GE SFP+端口, 兼容双100Base-FX/ 1000Base-X SFP端口，双10/100/ 1000Base-T RJ45端口

§  支持用于SAN网络的1G/2G/4G/8G/10G光纤通道测试

§  V-SAM测试包符合ITU-T Y.1564标准

§  IPv4和IPv6数据流产生

§  吞吐量、时延、帧丢失、背靠背测试用于RFC2544标准

§  支持IEEE 802.3ah, ITU-T Y.1731, IEEE 802.1ag和MPLS-TP OAM，支持Q-in-Q (VLAN 堆栈) 和多种MPLS标签

SyncE/IEEE 1588v2

§  同步分组网络的完整解决方案

§  支持IEEE 1588v2/PTP和SyncE/ITU-T G.8261标准

§  Master和Slave时钟仿真

§  IEEE 1588v2/PTP协议监测和解码

§  IEEE 1588v2/PTP PDV分析

§  可以从SyncE或PTP恢复时钟并输出到E1或DS1接口

§  支持ESMC SSM的产生、监测、解码

技术指标